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德國西門子SIEMENS物位測量基本原理：
在物位側(cè)量中，盡管各種測量方法所用的技術(shù)各不相同，但可把它們歸納為以下幾種測量原理
（1）基于力學原理
敏感元件所受到的力（壓力）的大小與物位成正比，它包括靜壓式、浮力式和重錘式物位測量等。
（2）基于相對變化原理
當物位變化時，物位與容器底部或頂部的距離發(fā)生改變，通過測量距離的相對變化可獲得物位的信息。這種測量原理包括聲學法、微波法和光學法等。
（3）基于某強度性物理量隨物位的升高而增加原理
例如對射線的吸收強度，電容器的電容量等。
日本西門子SIEMENS物位測量主要方法：在實際生產(chǎn)中，物位測量對象有液位也有料位等，有幾十米高的大容器、也有幾毫米的微型容器，介質(zhì)的特性更是千差萬別。因此，物位測量方法很多，以適應(yīng)各種不同的測量要求。
目前常用的物位測量方法可分為下列幾種。
靜壓式物位測量
根據(jù)流體靜力學原理檢測物位。靜止介質(zhì)內(nèi)某一點的靜壓力與介質(zhì)上方自由空間壓力之差，與該點上方的介質(zhì)高度成正比，因此可利用差壓來檢測液位。這種方法一般只用在液位的檢測。主要采用玻璃管及壓力（壓差）儀表來側(cè)量。
浮力式物位測量
利用漂浮于液面上浮子隨液面變化的位置，或者部分浸沒于液體中的物質(zhì)的浮力隨液位變化來檢測液位。前者稱為恒浮力法，后者稱變浮力法，二者均用于液位的測量。恒浮力式物位測量包括浮標式、浮球式和翻板式等各種方法。變浮力式物位測量方法中典型的敏感元件是浮筒，它是利用浮筒由于液體浸沒高度不同以致所受的浮力不同來檢測液位的變化。
電氣式物位測量
把敏感元件做成一定形狀的電極置于被測介質(zhì)中，根據(jù)電極之間的電氣參數(shù)（如電阻、電容等）隨物位變化的改變來對物位進行檢測。這種方法既可用于液位檢測，也可用于料位檢測。
聲學式物位側(cè)量
利用超聲波在介質(zhì)中的傳播速度及在不同相界面之間的反射特性來側(cè)量物位。液位和料位的測量都可以用此方法。
射線式物位測量
放射性同位素所放出的射線（如β射線、γ射線等）穿過被測介質(zhì)（液體或固體顆粒）因被其吸收而減弱，吸收程度與物位有關(guān)。由于射線的可穿透性，它們常被用于情況特殊或環(huán)境惡劣的場合實現(xiàn)各種參數(shù)的非接觸式測量，如位移、材料的厚度及成分、流體密度、流量、物位等。利用這種方法可實現(xiàn)物位的非接觸式測量。
除此之外還有微波法、光學法、重錘法等。
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